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三维光学测量系统

三维光学测量系统

三维光学测量系统

三维光学测量系统是採用光束进行测量的系统,具有非接触式的优点。这种系统也称三维雷射扫瞄器,根据感测方法不同,分三维雷射扫瞄器,照相式三维扫瞄器,和CT断层扫瞄器等。

基本介绍

  • 中文名:三维光学测量系统
  • 测量费用:较高
  • 探头状况:易磨损
  • 测量速度:慢

产品简介

测量费用较高;探头易磨损。测量速度慢;检测一些内部元件有先天的限制,故欲求得物体真实外形则需要对探头半径进行补偿,因此可能会导致修正误差的问题;接触探头在测量时,接触探头的力将使探头尖端部分与被测件之间发生局部变形而影响测量值的实际读数;由于探头触发机构的惯性及时间延迟而使探头产生超越现象,趋近速度会产生动态误差。

产品优势

随着计算机机器视觉这一新兴学科的兴起和发展,用非接触的光电方法对曲面的三维形貌进行快速测量已成为大趋势。这种非接触式测量不仅避免了接触测量中需要对测头半径加以补偿所带来的麻烦,而且可以实现对各类表面进行高速三维扫描。
採用非接触式三维扫瞄器因其接触性,对物体表面不会有损伤,同时相比接触式的具有速度快,容易操作等特徵,三维雷射扫瞄器可以达到5000-10000点/秒的速度,而照相式三维扫瞄器则採用面光,速度更是达到几秒钟百万个测量点,套用与实时扫描,工业检测具有很好的优势。
三维扫瞄器按照其原理分为2类,一种是“照相式”,一种是“雷射式”,两者都是非接触式,也就是说,在扫描的时候,这两种设备均不需要与被测物体接触。
“雷射式”扫瞄器属于较早的产品,由扫瞄器发出一束雷射光带,光带照射到被测物体上并在被测物体上移动时,就可以採集出物体的实际形状。“雷射式”扫瞄器一般要配备关节臂.
“照相式”扫瞄器是针对工业产品涉及领域的新一代扫瞄器,与传统的雷射扫瞄器和三座标测量系统比较,其测量速度提高了数十倍。由于有效的控制了整合误差,整体测量精度也大大提高。其採用可见光将特定的光栅条纹投影到测量工作表面,藉助两个高解析度CCD数位相机对光栅干涉条纹进行拍照,利用光学拍照定位技术和光栅测量原理,可在极短时间内获得複杂工作表面的完整点云。其独特的流动式设计和不同视角点云的自动拼合技术使扫描不需要藉助于工具机的驱动,扫描範围可达12M,而扫描大型工件则变得高效、轻鬆和容易。其高质量的完美扫描点云可用于汽车製造业中的产品开发、逆向工程、快速成型、质量控制,甚至可实现直接加工。

设备类型

主要仪器表现为:二次元、工具显微镜、光学影像测量仪、光学影像投影仪、三次元、三维雷射抄数机、三维结构光抄数机、三维结构光抄数仪、逆向工程测量仪器等。
非接触检测技术的套用
非接触检测技术在机械製造行业中,为了使机加工的产品能达到设计精度和质量要求,除了传统的物理计量与检测实现方法,可以运用高性能计算机及软体技术、光学、光学成像、声学与机器动作多种混合技术实现的逻辑计量与检测,我们习惯将这些複杂的计量与检测技术称之为非接触计量与检测技术。我公司将这些非接触计量与检测技术套用到为客户定製的计量与检测工具和设备之中,在实际项目中取得了满意的预期效果。我们的技术实现方式如:
1) 光电检测技术的套用
2) 辐射检测技术的套用
3) 电量检测技术的套用
4) 阻抗检测技术的套用
5) 超声检测技术的套用
6) 特殊複杂感测技术集成套用
7) 複杂的物体面测量技术套用
工业检测系统设计
我们能根据客户的需求不断的为客户提供性价比好的检测系统。加快客户产品投放市场的进度,同时也提高客户产品在市场的竞争优势。包括以下设计内容:
1) 数据处理:数据採集、数据分析、数据传输
2) 模具设计,QC质量检测系统设计,高精密仪器的精密数据的採集和逆向工程。
工业检测系统和工业自动控制系统改造
在实际工作中,有的设备需要为了提高加工精度或增加其他所需的检测功能。我们也能提供相映的技术服务,使之具有更高自动化程度和自动计量与检测功能。
非接触测试与工业自动控制系统设计
我们将工业测试系统与工业自动控制有机的结合。从可程式序控制器套用设计(PLC)、非接触检测系统到中央控制系统设计,最终为提高机械设备的加工和自动校验精度、实现智慧型化控制、提高成品率、缩短交货周期、降低生产成本,全面提升企业的市场竞争力。

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